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SOLIS-500激光烧蚀固体进样系统和ICP-OES联机的低合金钢分析(英文版)

SOLIS-500激光烧蚀固体进样系统和ICP-OES联机的低合金钢分析(英文版)

2003/08/20 15:19

  

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SOLIS500是一简洁的激光烧蚀固体进样系统,适用于各种类型和大小的样品。无需 对样品大小有限制及样品的分解,就能进行激光烧蚀取样和大块合金的分析。 SOLIS500型固体进样系统专为ICP-OES直接进样分析大块样品而研制。事实 上,任何样品都可以烧蚀进样而无需样品分解。 SOLIS500采用非常稳定的高能量Nd:YAG 1064nm激光器,最大功率50mJ/脉冲。 样品放置在客户化设计的样品架上并通过控制键选择烧蚀取样,可以是单点或扫描 取样分析。 可与任何ICP-OES想联机 无需光学观察和复杂的聚焦 精密度和正确度与经典的固体进样技术相当 适用于导电及非导电样品 设置和操作简单、方便 真正的免维护 激光头的稳定性:<1%,在满功率时

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